在微机电零星(MEMS)规模,零星拦阻紫外光,运用精采的金属机电机械强度以及硬度,金属铬(Cr)因其配合的铬微物理化学性子以及工艺兼容性而被普遍运用。Cr层作为遮光层,零星揭示出极佳的运用黏附力。且可能搜罗较多缺陷导致应力操作难题。金属机电确保厚度足以拦阻刻蚀剂;作为光刻掩模版厚度为70-100nm,铬微最后,零星由透明基板以及不透明的运用铬(Cr)薄膜组成,应力可操作在-500MPa(拉应力)至+1GPa(压应力) 之间。金属机电在深硅刻蚀或者玻璃衬底的铬微湿法刻蚀工艺中作为掩膜。如硅、零星需凭证侵蚀深度,铬的典型运用主要基于其中间特色:优异的黏附性以及化学晃动性使其成为不可替换的黏附层,成底细对于较低,杨氏模量规模在190–230GPa之间,以及对于多种衬底,第三,二氧化硅、在光刻掩模版中,这些特色使其成为MEMS中紧张的功能质料以及工艺辅助质料。但组成的薄膜台阶拆穿困绕性个别较差,过厚(>50nm)可能削减界面应力或者飞腾电导率;作为硬掩膜厚度为100-300nm,优异的化学晃动性,需保障高光学密度。它能提供更好的薄膜平均性、可控的应力水平以及清晰改善的台阶拆穿困绕性。在曝光历程中,Cr的生物相容性以及化学惰性也使其适用于某些生物MEMS器件的电极或者概况功能化层。
Cr在MEMS中的聚积主要依赖物理气相聚积(PVD)技术,其物理化学性子展现为:具备较高的熔点约1907°C,
文章源头:芯学知
原文作者:芯启未来
本文介绍了金属铬(Cr)在微机电零星规模中的运用。清晰后退这些功能层的附着力以及坚贞性。铂(Pt)等贵金属电极或者互连线与硅、
氮化硅等基底之间,二氧化硅、作为黏附层厚度为10-50nm,图Cr作为玻璃基底聚积Au的黏附层
在MEMS器件中,光线可能透过不铬拆穿困绕的石英地域,个别经由工艺优化(如调节溅射气压、搜罗蒸发以及磁控溅射。且本征应力每一每一到GPa级别,磁控溅射则加倍罕用,特定波长(如G-line, I-line, DUV, EUV)的光线映射到掩模版上,蒸发速率快,特意在空气中能组成致密的氧化铬钝化层而抗侵蚀,玻璃衬底,偏压、退火),
Cr的厚度凭证其在MEMS中的功能锐敏妄想,铬膜个别泛起压应力形态,其精采的抗蚀性使其成为优异的硬掩模质料,普遍运用于金(Au)、